鍍金測厚儀器的有天瑞儀器。該型號使用全自動軟件進行操作，能夠進行多點測試，儀器和移動平臺均由軟件控制。配備有φ0.1mm的小孔準直器，能夠滿足微小測試點的需求；同時，它具有高的移動平臺，重復定位小于0.005mm；采用高度定位的激光，能夠自動設定測試高度；并且裝配有高分辨率探頭，確保分析結果更加準確。

詳情介紹

EDX600pro是一款具備高和多種功能的X熒光檢測儀。它配備了一鍵測試按鈕和高的X/Y移動滑軌，使得檢測過程變得便捷迅速。根據不同產品的大小和材質，用戶可以靈活更換適當的準直器和濾光片，以實現*測量。同時，該儀器能夠進行元素成分分析、各種尺寸的異型涂層檢測，以及符合ROHS指令的測試。

鍍金測厚儀器有哪些？EDX-V是一款全新的測試儀，集成了過30年的X熒光膜厚測量技術研發，采用從上到下照射的X熒光測試方式，配備多導毛細管X射線光學系統。該儀器適用于無損分析，能夠準確測量極微小部件上的鍍層厚度，特別適合微米級尺寸的電子零件、芯片導線、晶圓微區等部件的鍍層厚度及成分進行高效測量。

測量的元素包括從13號鋁（Al）到92號鈾（U）之間的所有元素。

檢測能力：具備同時分析過五層涂層的能力，并可測定24種元素。

檢出限：金屬鍍層的分析厚度可達到 0.005μm。

厚度范圍：鍍層的分析厚度一般不過 50 微米。

厚度測試的準確度低于5%。

測試的含量范圍是0.1%到99.9%。

檢測含量的準確度低于0.5%。

穩定性：重復測量的準確度可達1%。

檢測時間為5到40秒。

探測器及其分辨率：140±5電子伏特的大窗口半導體鋰鈹探測器。

X射線設備：100W高功率微聚焦W靶管。

多通道分析儀：DMCA數字多通道分析技術，具備分析4096個通道的能力。

標配的準直器和濾光片尺寸為Φ0.2mm；可選配的孔徑有0.1×0.2mm、Φ0.15mm、Φ0.3mm或其他尺寸，測試直徑的鋁或鎳濾光片為Ф0.1mm。