掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機

掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機以電腦控制為主，采用臥式微型小設(shè)計原理，主要用于測試多種材料的物理場合條件下材料的單軸原位力學(xué)性能測試方案，加載時兩端夾具向相反對稱運動，保持樣品始終位于視場的中央，非常適合原位在線觀察。本機可配大小不同量程的傳感器，可測試軟材料、薄膜材料、生物材料、水凝膠、高分子材料等多種材料的拉伸、壓縮、彎曲、剝離、剪切、蠕變、松弛等測試，可以滿足力的控制位移控制變形控制程控控制等多種控制方式。是科研所、冶金建筑、大專校、機械制造、交通運輸?shù)刃袠I(yè)理想的高的試驗系統(tǒng)。

掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)： 1. 符合GB/T2611-2007《試驗機通用技術(shù)要求》；

                                                       2. 適用于GB、JIS、ASTM、DIN等標(biāo)準(zhǔn)要求。

掃描探針顯微鏡原位拉伸試驗機技術(shù)參數(shù)：

型號：HY-YW-00520（可定制）

額定負荷：5N       10N        20N         50N         100N     200N       300N      500N

測試精度：0.5級

測力范圍：0.005N-5N   0.01N-10N   0.02N-20N   0.5N-50N     0.1N-100N   0.2N-200N   0.3N-300N  0.5N-500N

載荷分辨率： 1/500000

試驗行程：0-150mm

位移分辨率：0.1μm

加載頻率：0~1Hz

試驗速度：5um/s-lmm/s

凈重：30Kg

外形尺寸：27cm*12cm*45cm

選配環(huán)境附件：水浴環(huán)境、高溫環(huán)境、低溫環(huán)境、腐蝕環(huán)境等

可配合：光學(xué)顯微鏡、DIC系統(tǒng)使用。

夾具：拉伸夾具、壓縮夾具、剝離夾具、剪切夾具等。

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