ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

這是一種光譜薄膜厚度監測器，使用單色光監測基板在氣相沉積過程中的光強度變化。 它也用于我們自己的氣相沉積設備，并在充滿作為氣相沉積部件制造商*知識的膜厚監控裝置中完成。它被連接到氣相沉積設備上，并監測薄膜厚度。

它可以按照右側所示進行安裝。

長處

緊湊的設計，帶有集成光譜儀

提高抗噪性，實現可靠的膜厚監測（靜電放電測試耐壓 ±5kV）

可通過 PC 的命令自動控制

控制器內置于接收器本體中，以實現高。

增強的波長范圍

以前的型號是濾光片型波長選擇，但新產品采用了我們經過驗證的光譜儀，現在可以選擇任何波長。

薄膜厚度變化的信號從電壓輸出更改為與個人計算機兼容的數字輸出，控制機構由個人計算機的命令控制，而不是手動作。 此外，通過I/F直接連接個人計算機的薄膜測厚儀本體進行控制，因此沒有其他制造商的控制器，因此是一個非常緊湊的系統。

ASAHI-SPECTRA（朝日分光）是日本*的光學技術企業，專注于高端分光器、光學濾光片及定制化光學元件的研發與生產。憑借數十年的技術積累，該在紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）光譜領域占據重要地位，產品廣泛應用于半導體檢測、生命科學、環境監測、工業測量及科研領域。
核心技術優勢
高精度分光技術：ASAHI-SPECTRA的分光器（如單色儀、光譜儀）以高分辨率、低雜散光特性著稱，滿足嚴苛的科研和工業需求。
*光學鍍膜工藝：其光學濾光片（帶通、長通、短通濾光片等）采用多層鍍膜技術，實現優異的透射率、截止深度和熱穩定性。
定制化解決方案：提供從標準品到完全定制設計的光學元件，靈活應對客戶特殊波長、尺寸或性能要求。
核心產品線
單色儀與光譜儀：適用于激光分析、熒光測量等精密應用。
光學濾光片：涵蓋紫外到紅外波段，支持窄帶、寬帶及特殊形狀需求。
光纖光譜系統：集成化設計，用于在線檢測和實時監測。